常常采用的方法有金相法、X-ray方法
金相法：采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度的方法。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。
X-ray法：适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。
■镀层厚度
■涂层厚度
■复合镀层厚度
■涂层附着力
检测设备
x荧光膜厚仪
金相显微镜等
测试咨询
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